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泰克推出全球首款支持TD-SCDMA的射频测试仪2013年01月01日 00:00
固纬电子针对高频元器件推出LCR测试仪2013年01月01日 00:00
第一款8×8 MIMO测试系统（Keithley）2013年01月01日 00:00
安捷伦推出LTE测试的解决方案2013年01月01日 00:00
吉时利推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块2013年01月01日 00:00
JTAG测试2013年01月01日 00:00
一种可进行快速、低成本测试的TD-SCDMA 测量套件问世2013年01月01日 00:00
安捷伦联手Anite率先推出LTE UE协议测试仪2013年01月01日 00:00
泛华测控开发智能角位移传感器测试系统2013年01月01日 00:00
泰克为业内最完整的PCIe 3.0测试解决方案增添功能2013年01月01日 00:00
数字源表B2900A在半导体激光器测试中的应用介绍2012年12月31日 10:55
教你如何在测试中选择数字示波器2012年12月31日 10:36
基于虚拟仪器的感应电机测试系统设计2012年12月31日 10:35
泰克推出业界首款具有自动测试的解决方案2012年12月31日 10:25
英特尔的智能手机Redhookbay性能测试结果曝光2012年12月31日 09:36
LG指控三星侵权要求禁售Galaxy Note 10.12012年12月28日 14:59
英特尔携Testin云测试启动Android应用开发有奖竞赛2012年12月28日 14:43
IPv6测试中心颁发金牌认证2012年12月28日 11:05
从华为荣耀2“跑分门”看手机跑分测试2012年12月28日 11:05
泰克推出针MHL Consortium规范自动测试解决方案2012年12月28日 10:43
R&S在2012年欧洲微波周上力推微波测试技术2012年12月28日 00:00
泰克公司六款产品入围最佳测试产品奖2012年12月27日 14:53
针对MHL CTS 2.0规范的首款自动测试解决方案2012年12月27日 13:16
泰克公司六款产品入围最佳测试产品奖2012年12月26日 17:40
三星领先台积电成功试产14纳米测试芯片2012年12月26日 11:22
三星完成首款14nm FinFET芯片测试2012年12月25日 13:59
索尼与东芝势必在2013年增加芯片支出2012年12月25日 13:56
泰克推出新款高速码型发生器和误差检测仪技术2012年12月25日 10:19
电容器的好坏和质量的测试方案2012年12月25日 09:37
艾法斯推出支持DC-HSUPA的TM500移动测试终端2012年12月24日 14:34